由日本京都大學科研人員負責的產學協(xié)同軟錯誤研究團隊，開發(fā)了一種可使用不同中子源獲取半導體軟錯誤率的方法。
軟錯誤率一般通過在地面上再現(xiàn)宇宙射線環(huán)境的特殊中子源進行實驗評估。而該方法則是通過將任意中子源的1個測量結果和數(shù)值模擬進行組合求得軟錯誤率。科研人員使用來自3個設施的7種類型中子源的測量值和高能粒子與重離子運動分析代碼程序PHITS（Particle and Heavy Ion Transport code System）評估軟錯誤率，驗證了該方法的有效性。采用這種方法，科研人員可以使用大量的通用中子源來評估軟錯誤率，滿足日益增長的軟錯誤率評估需求。相關研究成果發(fā)表于國際學術期刊《IEEE Transactions on Nuclear Science》。
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